长川科技取得芯片老化测试系统专利，提高芯片老化测试的准确性_资讯

长川科技取得芯片老化测试系统专利，提高芯片老化测试的准确性

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2026-09-08 17:32:55

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国家知识产权局信息显示，杭州长川科技股份有限公司取得一项名为“芯片老化测试系统”的专利，授权公告号CN224732099U，申请日期为2025年8月。

专利摘要显示，本公开提供了一种芯片老化测试系统，通过在控制电路和加热电路之间设置信号隔离电路，利用信号隔离电路中的第一光电耦合器将控制电路输出的第一控制信号转换为第一光信号，再将第一光信号转换为第二控制信号输出至加热电路，控制加热开关通断达到相应的加热功率，实现了控制电路与加热电路之间的电信号隔离，同时控制电路通过第一接地线路接地，加热电路通过第二接地线路接地，使得加热电路和控制电路的接地线路相互独立、互不干扰，在加热功率较高、加热电路输出信号的电流较大的情况下，可以降低加热电路输出信号所产生的噪声对控制电路的干扰，从而提高芯片老化测试的准确性。

天眼查资料显示，杭州长川科技股份有限公司，成立于2008年，位于杭州市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本60432.8728万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州长川科技股份有限公司共对外投资了18家企业，参与招投标项目135次，财产线索方面有商标信息14条，专利信息1402条，此外企业还拥有行政许可84个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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