国家知识产权局信息显示，上海聚跃检测技术有限公司;北京聚跃检测技术有限公司申请一项名为“一种芯片检测失效模式的根因定位方法”的专利，公开号CN122570995A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本发明提供一种芯片检测失效模式的根因定位方法，通过芯片内的监测节点获取芯片在失效过程中的连续状态时序数据，并构建各监测节点对应的时序数据集，根据各监测节点不同时刻的条件熵，获取各监测节点的单向熵涌指标，并结合第一阈值进行筛选，获取候选节点集，向候选节点集中的候选节点引入时间滞后核，遍历时延区间内的时间滞后参数，获取正向传递熵和反向传递熵，并构建双向传递熵谱，从双向传递熵谱中提取双向传递熵的最大值并获取传递熵不对称系数，通过传递熵不对称系数获取各候选节点的净信息流出量，根据净信息流出量获取芯片失效根因位置，通过这种芯片检测失效模式的根因定位方法，提高根因定位的精度。

天眼查资料显示，上海聚跃检测技术有限公司，成立于2017年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本2195.2319万人民币。通过天眼查大数据分析，上海聚跃检测技术有限公司共对外投资了14家企业，参与招投标项目42次，财产线索方面有商标信息5条，专利信息64条，此外企业还拥有行政许可4个。

北京聚跃检测技术有限公司，成立于2016年，位于北京市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本150万人民币。通过天眼查大数据分析，北京聚跃检测技术有限公司参与招投标项目8次，专利信息2条，此外企业还拥有行政许可4个。

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来源：市场资讯