国家知识产权局信息显示,苏试宜特(深圳)检测技术有限公司申请一项名为“一种芯片封装结构及其制备方法与测温方法”的专利,公开号CN121693233A,申请日期为2025年12月。
专利摘要显示,本发明提供一种芯片封装结构及其制备方法与测温方法,该制备方法包括步骤:提供一预封装结构,预封装结构包括至少一个芯片及包裹芯片的封装层,在芯片上表面选定设有目标测试位点的预设区域,形成显露出预设区域的开口,形成引出槽于封装层表层,形成绝缘层于目标测试位点上,提供感温线,将感温线穿设于所述引出槽中,并使感温线的一端沿引出槽延伸至开口内并固定于绝缘层上,另一端延伸至封装层外,测量芯片上表面与感温线之间的阻抗值,通过阻抗值判断是否填补绝缘层,形成填充层于开口和引出槽内,填充层覆盖绝缘层及感温线。本发明的芯片封装结构的制备方法将感温线设置于芯片的上表面,可实现对芯片内部结温直接、精准及实时地监测。
天眼查资料显示,苏试宜特(深圳)检测技术有限公司,成立于2007年,位于深圳市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本11000万人民币。通过天眼查大数据分析,苏试宜特(深圳)检测技术有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目6次,专利信息51条,此外企业还拥有行政许可14个。
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来源:市场资讯
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