增芯科技取得探针卡及芯片测试系统专利，减少良率损失_资讯

增芯科技取得探针卡及芯片测试系统专利，减少良率损失

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2026-09-04 15:27:36

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国家知识产权局信息显示，广州增芯科技有限公司取得一项名为“一种探针卡及芯片测试系统”的专利，授权公告号CN224720102U，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本实用新型的实施例提供了一种探针卡及芯片测试系统，涉及半导体测试技术领域。其包括电路基板、探针组以及位移补偿组件。位移补偿组件包括检测单元、补偿装置及传递单元。传递单元一端与探针组中的探针相连接，传递单元远离探针组的一端与检测单元、补偿装置相连接；补偿装置与传递单元相连接，检测单元用于检测探针组的压力信号并反馈至补偿装置，补偿装置根据压力信号通过传递单元对探针组进行位移补偿。本实用新型能够通过位移补偿组件判断各针压组的针头压力情况，并相应的增加或减少探针的位移，从而使探针能够以合适的压力接触芯片焊盘，减少良率损失，避免后续封装不良的问题。

天眼查资料显示，广州增芯科技有限公司，成立于2021年，位于广州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本749038.4616万人民币。通过天眼查大数据分析，广州增芯科技有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目49次，财产线索方面有商标信息53条，专利信息329条，此外企业还拥有行政许可182个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

科技取得探针芯片测试系统专利减少损失

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