科亿微申请基于光学特性的芯片焊点缺陷检测方法及系统专利，可提升芯片焊点缺陷检测的精准度与检测效率_资讯

科亿微申请基于光学特性的芯片焊点缺陷检测方法及系统专利，可提升芯片焊点缺陷检测的精准度与检测效率

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2026-07-05 04:35:17

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国家知识产权局信息显示，深圳市科亿微科技有限公司申请一项名为“一种基于光学特性的芯片焊点缺陷检测方法及系统”的专利，公开号CN122335702A，申请日期为2026年3月。

专利摘要显示，本发明涉及芯片焊点缺陷检测技术领域，一种基于光学特性的芯片焊点缺陷检测方法及系统，包括：获取待测倒装芯片，对已固定芯片中的多个焊点区域均进行扫描，得到芯片灰度图像集，对芯片灰度图像集中每个芯片灰度图像均执行如下操作：对芯片灰度图像进行焊点区域分割操作，得到优化二值边缘图像，对校正芯片灰度图像进行图像特征提取操作，得到特征向量，汇总特征向量，得到芯片灰度图像集对应的特征向量集，对特征向量集进行归一化，得到归一特征向量集，构建焊点缺陷识别模型，将归一特征向量集输入至焊点缺陷识别模型中，得到正常焊点集及缺陷焊点集。本发明可提升芯片焊点缺陷检测的精准度与检测效率。

天眼查资料显示，深圳市科亿微科技有限公司，成立于2010年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本505.05万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市科亿微科技有限公司财产线索方面有商标信息1条，专利信息9条，此外企业还拥有行政许可8个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

特性焊点缺陷检测光学深圳市芯片图像灰度专利量集

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