遇贤微电子申请芯片验证测试点智能分解方法专利，可缩短芯片验证周期_资讯

遇贤微电子申请芯片验证测试点智能分解方法专利，可缩短芯片验证周期

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2026-06-26 17:17:58

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国家知识产权局信息显示，遇贤微电子（广州）有限公司申请一项名为“芯片验证测试点智能分解方法及电子设备”的专利，公开号CN122287489A，申请日期为2026年3月。

专利摘要显示，本发明公开一种芯片验证测试点智能分解方法及电子设备，该方法包括：获得用户提供的芯片需求文档，使用自然语言处理技术对所述芯片需求文档进行分词、实体识别，以构建输入向量特征；获得训练好的大模型，将包含历史测试点分解结果的训练数据输入至所述大模型中，优化调整所述大模型的参数；将所述输入向量特征输入到参数优化后的所述大模型中，以生成测试点列表。与现有技术相比，本发明可以基于大模型从用户提供的芯片需求文档分解出合乎验证规范的测试点，且测试点分解效率高，可缩短芯片验证周期。

天眼查资料显示，遇贤微电子（广州）有限公司，成立于2020年，位于广州市，是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本1466.9415万人民币。通过天眼查大数据分析，遇贤微电子（广州）有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目1次，财产线索方面有商标信息8条，专利信息51条，此外企业还拥有行政许可7个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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