伯芯微电子申请芯片测试分选设备与分选方法专利，提高了芯片测试分选准确性_资讯

伯芯微电子申请芯片测试分选设备与分选方法专利，提高了芯片测试分选准确性

创始人

2026-06-26 17:18:34

0次

国家知识产权局信息显示，伯芯微电子（天津）有限公司申请一项名为“一种芯片测试分选设备与分选方法”的专利，公开号CN122294915A，申请日期为2026年5月。

专利摘要显示，本发明涉及芯片测试技术领域，具体的，涉及一种芯片测试分选设备与分选方法，包括：将待测的芯片移送至视觉检测工位；根据亮度失衡表征值确定芯片的测试分选需求状态；芯片处于一类测试分选需求状态时，若无候选亮斑区域，将芯片分选至电气检测仓位；若存在候选亮斑区域，根据偏振衰减比确定第一分选策略；根据偏振衰减比的判定结果确定处于一类测试分选需求状态的芯片是否处于疑似污染状态；在芯片处于二类测试分选需求状态或处于疑似污染状态时，根据桥接焦面表征值确定第二分选策略；对于分选至电气检测仓位的芯片，执行电气性能测试，完成芯片的测试分选流程。从而提高了芯片测试分选准确性。

天眼查资料显示，伯芯微电子（天津）有限公司，成立于2022年，位于天津市，是一家以从事电气机械和器材制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，伯芯微电子（天津）有限公司参与招投标项目7次，专利信息16条，此外企业还拥有行政许可12个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

电气状态天津提高了测试芯片设备伯芯微电子专利仓位天眼

上一篇：遇贤微电子申请芯片验证测试点智能分解方法专利，可缩短芯片验证周期

下一篇：航顺芯片取得内存访问方法专利

伯芯微电子申请芯片测试分选设备与分选方法专利，提高了芯片测试分选准确性

相关内容

热门资讯