上海精测半导体申请SEM图像降噪方法专利，提高了降噪图像的图像质量_资讯

上海精测半导体申请SEM图像降噪方法专利，提高了降噪图像的图像质量

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2026-05-16 18:14:55

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国家知识产权局信息显示，上海精测半导体技术有限公司申请一项名为“一种SEM图像降噪方法”的专利，公开号CN122048703A，申请日期为2024年11月。

专利摘要显示，本申请实施例提供一种SEM图像降噪方法。该方法包括：获取待降噪的SEM图像作为原始图像；构建降噪评价函数使得所述降噪评价函数包括第一项和第二项，并利用所述降噪评价函数对所述原始图像进行降噪处理，得到对应的降噪图像；其中，所述第一项用于降低所述降噪图像的像素值波动，所述第二项用于减小所述原始图像和所述降噪图像间的差异。与现有技术相比，该方法在实现图像降噪的基础上更多地保留了原始图像中的图像细节，提高了降噪图像的图像质量。

天眼查资料显示，上海精测半导体技术有限公司，成立于2018年，位于上海市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本207265.2777万人民币。通过天眼查大数据分析，上海精测半导体技术有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目228次，财产线索方面有商标信息12条，专利信息229条，此外企业还拥有行政许可71个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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