华虹半导体申请化学气相沉积方法专利,降低了滑片几率
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2026-03-22 03:21:54
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国家知识产权局信息显示,华虹半导体(无锡)有限公司申请一项名为“化学气相沉积方法”的专利,公开号CN121700358A,申请日期为2026年1月。

专利摘要显示,本申请公开了一种化学气相沉积方法,包括:通过CVD工艺在工艺腔室的上极板和下极板表面形成保护层,该保护层包括硅氧化物,在形成保护层的过程中通入的反应气体包括含硅有机物和氧气;通入氧气,在上极板和下极板之间通入射频电压,消耗工艺腔室中残留的含硅有机物;通过机械臂将晶圆传送至下极板上放置;通过CVD工艺在晶圆上沉积目标薄膜层;通过机械臂将晶圆传送出工艺腔室。本申请通过在晶圆上通过CVD工艺沉积形成目标薄膜层之前,在工艺腔室的上极板和下极板的表面形成保护层之后,继续通入氧气和射频电压消耗残留的含硅有机物,减少了机械臂上含硅有机物的粘附,进而在一定程度上降低了滑片几率,提高了良率和生产效率。

天眼查资料显示,华虹半导体(无锡)有限公司,成立于2017年,位于无锡市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本253685.180069万美元。通过天眼查大数据分析,华虹半导体(无锡)有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目2941次,专利信息1980条,此外企业还拥有行政许可117个。

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来源:市场资讯

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