芯合电子申请非易失性存储器读打断测试系统专利，显著提升非易失性存储器的实时性_资讯

芯合电子申请非易失性存储器读打断测试系统专利，显著提升非易失性存储器的实时性

创始人

2026-03-21 19:38:47

0次

国家知识产权局信息显示，芯合电子（上海）有限公司申请一项名为“一种非易失性存储器读打断测试系统”的专利，公开号CN121709002A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请提供了一种非易失性存储器读打断测试系统，通过判断所述读打断请求的读出数据与所述测试期望值是否相同，如果相同，则所述非易失性存储器支持读打断操作，这样表明了非易失性存储器具备动态中断响应能力，可在读取过程中无缝切换至高优先级任务，显著提升非易失性存储器的实时性。如果不相同，所述非易失性存储器不支持读打断操作，这样可以简化非易失性存储器的软件设计，避免因处理中断带来的额外开销与延迟，让数据读取流程更直接高效，适合对连续数据读取速度要求高的场景，因此，本申请能够验证非易失性存储器的是否支持读打断操作，为测试非易失性存储器是否支持读打断提供了解决方案。

天眼查资料显示，芯合电子（上海）有限公司，成立于2018年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1610.5263万人民币。通过天眼查大数据分析，芯合电子（上海）有限公司共对外投资了10家企业，财产线索方面有商标信息1条，专利信息49条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业数据投资易失性上海显著提升测试存储器读取专利上海市天眼

上一篇：盘点2026年靠谱的继电器钢丝卡、无极加强缓放继电器、JZXJC2交流灯丝转换继电器品牌

下一篇：振华富电子申请叠层片式电感器及其制备方法专利，可以缩短生产周期

芯合电子申请非易失性存储器读打断测试系统专利，显著提升非易失性存储器的实时性

相关内容

热门资讯