展讯半导体申请自动曝光仿真验证方法专利,提高仿真验证效率
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2026-03-21 12:42:14
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国家知识产权局信息显示,展讯半导体(南京)有限公司申请一项名为“自动曝光仿真验证方法、装置、设备和存储介质”的专利,公开号CN121691659A,申请日期为2025年12月。

专利摘要显示,本申请涉及一种自动曝光仿真验证方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括:对多个时序连续的视频帧迭代执行子仿真流程,根据各迭代执行结果确定仿真验证结果,视频帧中包括多帧基于不同曝光参数采集的时序连续的图像;第i次子仿真流程包括:获取目标曝光参数;在i等于1时,目标曝光参数为预设的初始曝光参数,在i大于1时,目标曝光参数为第i‑1次子仿真流程中确定的曝光参数;在第i个视频帧中不存在目标图像的情况下,根据目标曝光参数和第i个视频帧中的各图像生成目标图像,目标图像的曝光参数与目标曝光参数相同;根据目标图像和自动曝光算法确定曝光参数,将目标图像和曝光参数作为迭代执行结果。采用本方法能够提高仿真验证效率。

天眼查资料显示,展讯半导体(南京)有限公司,成立于2016年,位于南京市,是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本4460万美元。通过天眼查大数据分析,展讯半导体(南京)有限公司专利信息701条,此外企业还拥有行政许可11个。

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来源:市场资讯

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