国家知识产权局信息显示,南亚科技股份有限公司申请一项名为“半导体装置与其形成方法”的专利,公开号CN121666054A,申请日期为2024年10月。
专利摘要显示,一种半导体装置,包含基板、主动栅极结构、虚设栅极结构,以及储存节点。基板包含主动区以及围绕主动区的隔离结构,其中隔离结构为双层结构,且隔离结构的平均介电常数为小于3.9。主动栅极结构设置于主动区中,虚设栅极结构设置于隔离结构中。储存节点设置在主动栅极结构与虚设栅极结构之间。一种形成半导体装置的方法亦在此揭露。隔离结构为直接插入虚设栅极结构跟储存节点之间,且隔离结构的平均介电常数小于3.9,因此,在虚设栅极结构跟储存节点之间的电容值得以降低,GIDL也因而被改善。
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来源:市场资讯