德州仪器申请偏压温度不稳定性测量系统专利，确定晶体管装置的差分对之间的阈值电压改变
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2026-03-10 23:16:45
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国家知识产权局信息显示，德州仪器公司申请一项名为“偏压温度不稳定性(BTI)测量系统”的专利，公开号CN121633775A，申请日期为2025年8月。
专利摘要显示，公开了一种偏压温度不稳定性BTI测量系统。一个实例包含用于执行DUT(110)的BTI测试过程(106)的方法。所述方法包含将DUT电路(112)的接触焊盘耦合到测试设备(102)。所述DUT电路(112)包含差分输入级和增益级。所述差分输入级包含制造匹配于所述DUT(110)的晶体管的差分对。所述方法还包含将BTI应力从所述测试设备(102)提供到晶体管装置的所述差分对中的一个，以模拟晶体管的所述差分对中的相应一个的BTI老化。所述方法还包含将差分输入电压从所述测试设备(102)提供到所述差分输入级。所述方法进一步包含响应于所述差分输入电压，经由所述测试设备(102)在所述增益级的输出处测量输出电压，以确定晶体管装置的所述差分对之间的阈值电压改变。
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