华工正源取得晶振测试系统专利，可一次性测试多只晶振_资讯

华工正源取得晶振测试系统专利，可一次性测试多只晶振

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2026-03-08 01:11:01

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国家知识产权局信息显示，武汉华工正源光子技术有限公司取得一项名为“一种晶振测试系统”的专利，授权公告号CN223977292U，申请日期为2024年11月。

专利摘要显示，一种晶振测试系统，包括测试板、测试板夹具、控制板、控制板夹具、近场探头以及用于探头位移夹具；测试板安装于测试板夹具的腔体中，多个待测晶振分别安装于测试板的多个测试通道对应的多个预留安装位上；控制板夹具安装于测试板夹具一侧，控制板安装于控制板夹具上，测试板和控制板通过连接线电连接；近场探头位于待测晶振上方，近场探头安装于探头位移夹具上，探头位移夹具安装于测试板夹具另一侧。本发明可一次性测试多只晶振，适配不同产品所使用的晶振，大大降低了测试难度，提高了测试效率。

天眼查资料显示，武汉华工正源光子技术有限公司，成立于2002年，位于武汉市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本100000万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉华工正源光子技术有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目257次，专利信息427条，此外企业还拥有行政许可113个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业显示正源投资夹具测试近场光子华工专利控制板晶振测试板

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