拓荆键科申请芯片拾取定位方法及装置专利，有效提升芯片拾取定位的精度与稳定性_资讯

拓荆键科申请芯片拾取定位方法及装置专利，有效提升芯片拾取定位的精度与稳定性

创始人

2026-02-04 17:15:08

0次

国家知识产权局信息显示，拓荆键科（海宁）半导体设备有限公司申请一项名为“一种芯片拾取定位方法及装置”的专利，公开号CN121463771A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明涉及半导体制造技术领域，更具体地说，涉及一种芯片拾取定位方法及装置。本方法包括：使用第一光源或第二光源对顶针进行照明，获取顶针图像，并基于所述顶针图像识别出所述顶针的位置坐标；使用第一光源或第二光源对芯片进行照明，获取芯片图像，并基于所述芯片图像识别出所述芯片的位置坐标；基于所述顶针的位置坐标和所述芯片的位置坐标，移动芯片位置使芯片中心与所述顶针的中心对齐；控制顶针将芯片顶起，对芯片进行拾取。本发明通过采用环形光源与同轴点光源相结合的照明方案，在避免与顶针结构干涉的同时实现对芯片与顶针的精确视觉定位，有效提升芯片拾取定位的精度与稳定性。

天眼查资料显示，拓荆键科（海宁）半导体设备有限公司，成立于2020年，位于嘉兴市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本1511.4245万人民币。通过天眼查大数据分析，拓荆键科（海宁）半导体设备有限公司参与招投标项目6次，财产线索方面有商标信息7条，专利信息113条，此外企业还拥有行政许可7个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

方法顶针半导体精度定位芯片荆键装置光源专利海宁拓荆键科

上一篇：存储芯片涨价超300%！科创芯片设计ETF天弘（589070）交投活跃，盘中频现溢价交易

下一篇：奇安易联申请基于图像分析的芯片封测气泡率分析方法及系统专利，计算气泡面积占芯片面积的百分比

拓荆键科申请芯片拾取定位方法及装置专利，有效提升芯片拾取定位的精度与稳定性

相关内容

热门资讯