晶存科技申请内存芯片质量测试方法专利，提高缺陷芯片筛选的准确性和效率_资讯

晶存科技申请内存芯片质量测试方法专利，提高缺陷芯片筛选的准确性和效率

创始人

2026-02-04 13:47:28

0次

国家知识产权局信息显示，深圳市晶存科技股份有限公司申请一项名为“一种内存芯片质量测试方法、装置、电子设备及存储介质”的专利，公开号CN121438923A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明提供了一种内存芯片质量测试方法、装置、电子设备及存储介质。本发明提供的方法，包括：获取多个内存芯片的引脚的眼图，根据眼图获取眼图指标数据；对多个内存芯片的引脚对应的同一种眼图指标数据进行统计，以获取引脚对应的同一种眼图指标数据的分布，根据分布确定多个内存芯片的引脚对应的同一种眼图指标数据的预设上限值和预设下限值，以获取每个眼图指标的预设上限值和预设下限值；获取当前待测内存芯片的引脚的眼图指标数据，根据当前待测内存芯片的引脚的眼图指标数据与对应的预设上限值、预设下限值确定对当前待测内存芯片的测试是否通过。本发明的方法，可以提高缺陷芯片筛选的准确性和效率。

天眼查资料显示，深圳市晶存科技股份有限公司，成立于2016年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本10216万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市晶存科技股份有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目1次，财产线索方面有商标信息23条，专利信息194条，此外企业还拥有行政许可13个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业数据缺陷投资深圳市芯片内存眼图准确性专利内存芯片限值

上一篇：海光信息申请芯片封装结构及芯片封装方法专利，解决高功耗高热流密度芯片散热效率不足问题

下一篇：存储芯片板块低开，深康佳A跌停

晶存科技申请内存芯片质量测试方法专利，提高缺陷芯片筛选的准确性和效率

相关内容

热门资讯