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安测半导体申请存储器读写测试方法及装置专利，提高了存储器读写测试的准确性

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2026-01-28 16:41:19

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国家知识产权局信息显示，安测半导体技术（义乌）有限公司申请一项名为“一种存储器的读写测试方法及装置”的专利，公开号CN121415851A，申请日期为2025年10月。

专利摘要显示，本发明属于芯片测试（晶圆测试）领域，为了解决目前存储芯片的读写测试效率有待进一步提高的问题，本发明提供了一种存储器的读写测试方法及装置，该方法包括：将存储器的存储区划分为多个子区域，该子区域为最小读写单元；根据第一预设策略对所有子区域进行读写测试，得到每个子区域的读写错误次数，如果有子区域的读写错误次数超过阈值，则存储器不合格；所述第一预设策略包括在预设时长内读写的次数；如果第一子区域的错误次数没有超过阈值，与阈值的差值满足预设条件，对所述第一子区域重新进行读写测试。本发明解决了阈值不能够很好适应每次读写测试的问题，避免因阈值不合适使存在异常的子区域检测结果为正常，提高了存储器读写测试的准确性。

天眼查资料显示，安测半导体技术（义乌）有限公司，成立于2021年，位于金华市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本14722.7394万人民币。通过天眼查大数据分析，安测半导体技术（义乌）有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目1次，专利信息30条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业次数投资阈值提高了测试存储器导体专利区域

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