三晋通科技申请芯片失效分析方法专利，提高芯片故障分析的准确性
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2026-01-10 18:38:00
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国家知识产权局信息显示，深圳市三晋通科技有限公司申请一项名为“芯片失效分析方法、装置、设备及存储介质”的专利，公开号CN121299412A，申请日期为2025年10月。
专利摘要显示，本公开的实施方式涉及芯片检测技术领域，更具体地，本公开的实施方式涉及一种芯片失效分析方法、装置、设备及存储介质，获取待测芯片的识别编码，以通过识别编码获取待测芯片的故障预测模型，基于故障预测模型对待测芯片进行指定模式的运行测试，得到待测芯片的测试表现特征，根据所述测试表现特征对所述待测芯片进行结构单元失效检测方案分析，生成待测芯片的结构切割方案，根据结构切割方案对待测芯片进行聚焦离子束的结构切割，得到若干芯片结构单元，以进行后续的检测。
天眼查资料显示，深圳市三晋通科技有限公司，成立于2020年，位于深圳市，是一家以从事商务服务业为主的企业。企业注册资本200万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市三晋通科技有限公司财产线索方面有商标信息1条，专利信息5条，此外企业还拥有行政许可8个。
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来源：市场资讯
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