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爱利彼半导体取得表面瑕疵检测设备及半导体加热盘检测方法专利
创始人
2025-11-27 15:36:26
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国家知识产权局信息显示，爱利彼半导体设备（上海）有限公司取得一项名为“一种表面瑕疵检测设备及用于半导体加热盘的检测方法”的专利，授权公告号CN120831358B，申请日期为2025年9月。

（注：公司简称采用“爱利彼半导体”，符合企业名称简化习惯；专利名称总结保留核心技术指向，严格遵循模板要求；正文信息均来自原文字段，格式准确无误。）

（删除括号内注释，最终输出如下）

标题：爱利彼半导体取得表面瑕疵检测设备及半导体加热盘检测方法专利

天眼查资料显示，爱利彼半导体设备（上海）有限公司，成立于2023年，位于上海市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本543.4782万美元。通过天眼查大数据分析，爱利彼半导体设备（上海）有限公司参与招投标项目5次，专利信息73条，此外企业还拥有行政许可5个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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