志合云创申请基于机器视觉的芯片偏移检测方法及系统专利，可提高芯片偏移检测的精度_资讯

志合云创申请基于机器视觉的芯片偏移检测方法及系统专利，可提高芯片偏移检测的精度

创始人

2026-09-11 20:28:20

0次

国家知识产权局信息显示，深圳市志合云创科技有限公司申请一项名为“一种基于机器视觉的芯片偏移检测方法及系统”的专利，公开号CN122729834A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本发明涉及机器视觉技术领域，一种基于机器视觉的芯片偏移检测方法及系统，包括：将待测芯片输送至定位工位，得到定位芯片，获取定位芯片的多个中心定位坐标，对定位芯片进行芯片厚度测量，得到多个目标芯片厚度，基于多个目标芯片厚度获取多个归一化分层图像，对多个归一化分层图像进行清晰度评价，得到多个清晰度特征矩阵，基于多个清晰度特征矩阵构建大景深图像，利用大景深图像进行芯片偏移识别，得到偏移识别结果，基于多个偏移识别结果获取多个合格芯片。本发明可提高芯片偏移检测的精度、全面性及检测效率。

天眼查资料显示，深圳市志合云创科技有限公司，成立于2021年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市志合云创科技有限公司参与招投标项目12次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息24条，此外企业还拥有行政许可3个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

方法机器清晰度视觉投资偏移检测深圳市芯片专利大景机器视觉图像

上一篇：燧原科技今日挂牌上市，“AI芯片四小龙”会师

下一篇：腾讯芯片研发负责人高剑林被曝离职创业

志合云创申请基于机器视觉的芯片偏移检测方法及系统专利，可提高芯片偏移检测的精度

相关内容

热门资讯