长川科技获得实用新型专利授权：“芯片老化测试系统”_资讯

长川科技获得实用新型专利授权：“芯片老化测试系统”

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2026-09-11 08:45:31

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证券之星消息，根据天眼查APP数据显示长川科技（300604）新获得一项实用新型专利授权，专利名为“芯片老化测试系统”，专利申请号为CN202521680210.X，授权日为2026年9月8日。

专利摘要：本公开提供了一种芯片老化测试系统，通过在控制电路和加热电路之间设置信号隔离电路，利用信号隔离电路中的第一光电耦合器将控制电路输出的第一控制信号转换为第一光信号，再将第一光信号转换为第二控制信号输出至加热电路，控制加热开关通断达到相应的加热功率，实现了控制电路与加热电路之间的电信号隔离，同时控制电路通过第一接地线路接地，加热电路通过第二接地线路接地，使得加热电路和控制电路的接地线路相互独立、互不干扰，在加热功率较高、加热电路输出信号的电流较大的情况下，可以降低加热电路输出信号所产生的噪声对控制电路的干扰，从而提高芯片老化测试的准确性。

今年以来长川科技新获得专利授权200个，较去年同期增加了29.03%。结合公司2026年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了5.93亿元，同比增25.38%。

通过天眼查大数据分析，杭州长川科技股份有限公司共对外投资了18家企业，参与招投标项目134次；财产线索方面有商标信息26条，专利信息1400条，著作权信息83条；此外企业还拥有行政许可84个。

数据来源：天眼查APP

以上内容为证券之星据公开信息整理，不构成投资建议。

科技信息电路输出接地测试天眼芯片信号专利长川科技

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