长鑫科技获得发明专利授权：“芯片测试方法和装置”_资讯

长鑫科技获得发明专利授权：“芯片测试方法和装置”

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2026-09-11 06:47:21

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证券之星消息，根据天眼查APP数据显示长鑫科技（688825）新获得一项发明专利授权，专利名为“芯片测试方法和装置”，专利申请号为CN202310935104.0，授权日为2026年9月4日。

专利摘要：本申请涉及一种芯片测试方法和装置。所述方法包括：配置刷新参数；进入自刷新模式，基于所述刷新参数执行自刷新操作，自刷新操作完成后退出自刷新模式；其中，所述自刷新操作包括向存储阵列发送刷新命令和行锤刷新命令，所述刷新命令和所述行锤刷新命令的操作次数之和为N+1，所述自刷新操作在第N+1次向所述存储阵列发送的命令为所述行锤刷新命令，N为大于1的正整数；读取所述存储阵列中的数据，当所述数据读取错误时，则确定存在异步信号差值。本申请配准的刷新参数，不仅可以检测到自刷新模式中存在的数据错误风险，降低了芯片产品的不良率；还可以大幅度降低测试时间，提高测试效率，节约了测试成本。

今年以来长鑫科技新获得专利授权39个。结合公司2026年中报财务数据，今年上半年公司在研发方面投入了55.37亿元，同比增51.27%。

通过天眼查大数据分析，长鑫科技集团股份有限公司共对外投资了16家企业，参与招投标项目1084次；财产线索方面有商标信息420条，专利信息715条，著作权信息25条；此外企业还拥有行政许可44个。

数据来源：天眼查APP

以上内容为证券之星据公开信息整理，不构成投资建议。

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