珂美娜佳申请芯片测试数据离群值处理方法专利，降低非缺陷离群误判导致的良率损失_资讯

珂美娜佳申请芯片测试数据离群值处理方法专利，降低非缺陷离群误判导致的良率损失

创始人

2026-09-05 13:26:20

0次

国家知识产权局信息显示，深圳市珂美娜佳科技有限公司申请一项名为“一种芯片测试数据的离群值处理方法”的专利，公开号CN122692854A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本发明公开了一种芯片测试数据的离群值处理方法，涉及半导体测试技术领域。该方法应用于晶圆探针测试流程，采用稳健统计方式对单批次晶圆的各项测试参数执行离群值初检，筛选得到初检离群样本；对每个初检离群样本分别提取空间分布、复测残差、参数物理关联、测试时序四类量化特征，基于预设判定规则将初检离群样本划分为测试误差型、工艺波动型、真实缺陷型三类成因；针对三类不同成因的离群样本分别执行对应处理动作，同时同步向测试运维、工艺监控、芯片分选系统输出对应联动指令。本发明可实现离群值的成因识别与差异化处置，降低非缺陷离群误判导致的良率损失，形成产线多环节的协同响应机制。

天眼查资料显示，深圳市珂美娜佳科技有限公司，成立于2023年，位于深圳市，是一家以从事零售业为主的企业。企业注册资本100万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市珂美娜佳科技有限公司财产线索方面有商标信息1条，专利信息1条，此外企业还拥有行政许可4个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

美娜缺陷降低误判测试深圳市良率芯片处理专利珂美离群群值样本

上一篇：IEAE深圳电子展聚焦源头直采，精准匹配助力供需对接

下一篇：沃太恒储申请基于辛普森积分法的虚拟电厂储能容量计算方法专利，显著提升虚拟电厂储能电池SOC预测精度与电力交易决策准确性

珂美娜佳申请芯片测试数据离群值处理方法专利，降低非缺陷离群误判导致的良率损失

相关内容

热门资讯