上海申瓷申请芯片托盘光学特征采集与处理装置及方法专利，生成完整的芯片托盘图像_资讯

上海申瓷申请芯片托盘光学特征采集与处理装置及方法专利，生成完整的芯片托盘图像

创始人

2026-09-02 10:57:54

0次

国家知识产权局信息显示，上海申瓷集成电路有限责任公司申请一项名为“一种芯片托盘光学特征采集与处理装置及方法”的专利，公开号CN122675710A，申请日期为2026年4月。

专利摘要显示，本发明公开了一种芯片托盘光学特征采集与处理装置及方法，包括采集装置及与其相接的处理装置，所述采集装置用于对芯片托盘进行定位及补光，并分别采集芯片托盘的第一图像及第二图像，所述第一图像及第二图像之间设有重叠区域，所述处理装置用于接收并处理采集装置采集的图像数据，包括：畸变修正模块，用于将所述第一图像及第二图像并分别进行径向畸变校正和切向畸变校正，得到畸变校正后的图像数据；图像去重模块，用于提取畸变校正后的图像数据的计算机视觉算法特征点，匹配重叠区域，并剔除冗余数据，得到去重后的图像数据；拼接融合模块，用于对去重后的图像数据进行配准与边界融合，生成完整的芯片托盘图像。

天眼查资料显示，上海申瓷集成电路有限责任公司，成立于2021年，位于上海市，是一家以从事研究和试验发展为主的企业。企业注册资本53800万人民币。通过天眼查大数据分析，上海申瓷集成电路有限责任公司参与招投标项目3次，财产线索方面有商标信息4条，专利信息28条，此外企业还拥有行政许可67个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

数据特征光学芯片装置处理申瓷图像托盘专利上海申瓷

上一篇：原创美国败局已定？美方承认F-35在海峡上空遭袭，美媒已料到美军结局

下一篇：芯片基金：9月1日融资买入818.04万元，融资融券余额1.22亿元

上海申瓷申请芯片托盘光学特征采集与处理装置及方法专利，生成完整的芯片托盘图像

相关内容

热门资讯