湖南奥创普科技申请芯片多面缺陷检测设备专利，有效提升各缺陷检测相机对芯片的检测精度_资讯

湖南奥创普科技申请芯片多面缺陷检测设备专利，有效提升各缺陷检测相机对芯片的检测精度

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2026-08-31 09:25:21

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国家知识产权局信息显示，湖南奥创普科技有限公司申请一项名为“一种芯片检测台、检测机构及芯片多面缺陷检测设备”的专利，公开号CN122651603A，申请日期为2026年7月。

专利摘要显示，本发明涉及芯片外观缺陷检测技术领域，具体涉及一种芯片检测台、检测机构及芯片多面缺陷检测设备，芯片检测台包括十字滑台、角度调节台、回转器和料台；角度调节台安装于十字滑台上，能够驱动角度调节台沿X轴和Y轴移动；回转器安装于角度调节台上，以能够驱动回转器绕X轴回转；料台与回转器连接，能够驱动料台绕Z轴回转。十字滑台、角度调节台和回转器协同作业，实现对芯片在X轴、Y轴、绕X轴、绕Z轴方向上的补偿调节，完成了芯片检测台上芯片正面相对于正面缺陷检测相机的补偿调节，完成了芯片端面相对于端面缺陷检测相机的补偿调节，使得芯片正面的补偿调节与芯片端面的补偿调节同步完成，有效提升了各缺陷检测相机对芯片的检测精度。

天眼查资料显示，湖南奥创普科技有限公司，成立于2020年，位于长沙市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本1384.718052万人民币。通过天眼查大数据分析，湖南奥创普科技有限公司参与招投标项目16次，财产线索方面有商标信息4条，专利信息116条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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