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浙江创芯申请一种缺陷检测方法和设备专利，提高芯片良率

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2026-08-28 22:28:02

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国家知识产权局信息显示，浙江创芯集成电路有限公司申请一项名为“一种缺陷检测方法和设备”的专利，公开号CN122662644A，申请日期为2026年5月。

专利摘要显示，本发明实施例提供一种缺陷检测方法和设备，其中，缺陷检测方法，包括：提供晶圆；所述晶圆包括：多个芯片；每个芯片包括多个重复性区域；所述重复性区域的物理结构相同；按照重复性区域在对应芯片中的位置，进行灰阶值的提取；对处于不同位置的重复性区域的灰阶值进行对比，得到灰阶值具有差异的目标重复性区域；确定缺陷在所述目标重复性区域中的位置。本发明实施例提供的缺陷检测方法可以提高芯片良率。

天眼查资料显示，浙江创芯集成电路有限公司，成立于2020年，位于杭州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本214766.6666万人民币。通过天眼查大数据分析，浙江创芯集成电路有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目294次，财产线索方面有商标信息21条，专利信息678条，此外企业还拥有行政许可7个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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