北京怀美科技申请基于多维度智能图表分析的存储器单粒子辐照测试系统与方法专利,为存储器抗辐照设计优化提供精准数据支撑
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2026-07-03 14:19:19
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国家知识产权局信息显示,北京怀美科技有限公司申请一项名为“一种基于多维度智能图表分析的存储器单粒子辐照测试系统与方法”的专利,公开号CN122314067A,申请日期为2026年3月。

专利摘要显示,本申请实施例公开了一种基于多维度智能图表分析的存储器单粒子辐照测试系统及方法,系统包括下位机数据采集模块和上位机多维度智能分析平台;下位机数据采集模块按上位机配置的测试模式向存储器全地址写入基准数据,在辐照过程中实时读取存储器全地址数据,与基准数据比对以捕捉单粒子翻转的错误地址和错误数据,将错误地址、错误数据、实时辐照参数及测试配置参数打包为原始数据发送至上位机;上位机多维度智能分析平台用于配置测试模式、存储器工作参数及辐照关联参数,基于原始数据,生成多维度智能图表。本申请为存储器抗辐照设计优化、敏感位防护策略制定及可靠性评估提供精准、可靠的数据支撑和可视化决策依据。

天眼查资料显示,北京怀美科技有限公司,成立于2008年,位于北京市,是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析,北京怀美科技有限公司共对外投资了1家企业,参与招投标项目48次,财产线索方面有商标信息1条,专利信息21条,此外企业还拥有行政许可4个。

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来源:市场资讯

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