奥维领芯申请协助IC验证分析缺陷率专利，显著提升了IC验证过程中的缺陷分析效率和便捷性_资讯

奥维领芯申请协助IC验证分析缺陷率专利，显著提升了IC验证过程中的缺陷分析效率和便捷性

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2026-06-19 05:59:23

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国家知识产权局信息显示，深圳奥维领芯科技有限公司申请一项名为“协助IC验证分析缺陷率的方法、系统及相关设备”的专利，公开号CN122112380A，申请日期为2026年2月。

专利摘要显示，本发明提供了一种协助IC验证分析缺陷率的方法、系统及相关设备，方法包括连接预设的缺陷管理服务器，获取指定项目下的全部原始缺陷数据；在网页客户端接收至少一组包括用于正向匹配的Filter参数和用于反向过滤的NFilter参数的过滤参数；基于至少一组过滤参数对全部原始缺陷数据进行筛选，得到数据项符合Filter参数且不符合NFilter参数的匹配缺陷数据集；对匹配缺陷数据集进行数据分析和统计，生成至少一种预设维度的缺陷率分析结果；将缺陷率分析结果在网页客户端进行可视化渲染和展示。本发明实现了从数据获取到可视化展示的全流程自动化，用户可通过网页方便地进行实时、动态的多维度数据筛选与分析，显著提升了IC验证过程中的缺陷分析效率和便捷性。

天眼查资料显示，深圳奥维领芯科技有限公司，成立于2023年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本348.0623万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳奥维领芯科技有限公司共对外投资了4家企业，财产线索方面有商标信息15条，专利信息20条，此外企业还拥有行政许可3个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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