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安徽数自星智能科技申请芯片表面缺陷检测方法专利，提高生物芯片表面缺陷检测的精准度

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2026-06-03 10:15:42

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国家知识产权局信息显示，安徽数自星智能科技有限公司申请一项名为“一种芯片表面缺陷检测方法及装置、系统、存储介质”的专利，公开号CN122115461A，申请日期为2026年4月。

专利摘要显示，本发明涉及生物芯片缺陷检测技术领域，公开了一种芯片表面缺陷检测方法及装置、系统、存储介质，本发明通过获取生物芯片的明暗场图像，提高表面缺陷的可辨识度。然后，基于缺陷图元的分类预测分布，构建置信度分数，通过第一特征信息与第二特征信息，分别从同一缺陷图元在不同图像之间的“一致性差异”与同一缺陷预测类型的不同图元之间的“个体性差异”的角度，丰富置信度分数的评估标准，进一步精确置信度分数。当该分数小于第一阈值时，认定该缺陷图元为低置信度，并对其对应位置的图像进行重新采样，进一步提高了图像精度和图像细节表达，使缺陷检测过程和得到的结果更准确，从而提高了生物芯片表面缺陷检测的精准度。

天眼查资料显示，安徽数自星智能科技有限公司，成立于2021年，位于合肥市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本528万人民币。通过天眼查大数据分析，安徽数自星智能科技有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目1次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息6条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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