斯达半导体申请低杂散电感测试系统专利，降低杂散电感_资讯

斯达半导体申请低杂散电感测试系统专利，降低杂散电感

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2026-04-13 21:20:02

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国家知识产权局信息显示，斯达半导体股份有限公司申请一项名为“一种低杂散电感的测试系统及方法”的专利，公开号CN121831439A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明提供一种低杂散电感的测试系统，包括检测区域，检测区域内至少搭载有一个待检测功率器件；检测模块，用于检测待检测功率器件输出的电平信号；连接模块，连接模块通过焊接连接搭载于检测区域内的其中一个待检测功率器件的输出端检测模块，用于形成检测回路，以供检测模块获取待检测功率器件输出的电平信号；电容模块，连接待检测功率器件的输出端，用于缩短电流路径。通过本发明得到的有益效果是通过缩短电流路径，降低杂散电感；只需焊接一次待检测功率器件和检测模块，每次测试只需更换待检测功率器件，不会因多次焊接损坏检测模块。

天眼查资料显示，斯达半导体股份有限公司，成立于2005年，位于嘉兴市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本23947.3466万人民币。通过天眼查大数据分析，斯达半导体股份有限公司共对外投资了13家企业，参与招投标项目48次，财产线索方面有商标信息3条，专利信息285条，此外企业还拥有行政许可7个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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