恩迪检测技术申请差分式共面电容检测探头专利，检测结果受探头抖动、检测提离效应等因素影响小_资讯

恩迪检测技术申请差分式共面电容检测探头专利，检测结果受探头抖动、检测提离效应等因素影响小

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2026-04-01 09:19:41

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国家知识产权局信息显示，恩迪检测技术（青岛）有限公司;中国石油大学（华东）申请一项名为“一种差分式共面电容检测探头”的专利，公开号CN121762641A，申请日期为2026年1月。

专利摘要显示，本发明涉及电磁无损检测技术领域，具体提供一种差分式共面电容检测探头，所述检测探头包括差分式共面电容单元、差分信号放大模块、探头外壳和信号传输接口；其中：所述差分式共面电容单元包括第一接收电极、第二接收电极和公共激励电极，所述公共激励电极连接所述信号传输接口的输入端，所述第一接收电极和第二接收电极连接所述差分信号放大模块；所述第一接收电极和第二接收电极输出检测信号，所述输出检测信号经差分信号放大模块处理后输出至信号传输接口中的输出端。本申请的检测探头抗干扰能力强，现场适应性强，可有效降低缺陷误判率，检测结果受探头抖动、检测提离效应等因素影响小。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

效应电极分式差分检测电容共面信号恩迪专利差分式探头

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