福顺半导体申请基于JUNO系统的三合一MOS晶圆快速测试方法专利，提升测试效率与准确率_资讯

福顺半导体申请基于JUNO系统的三合一MOS晶圆快速测试方法专利，提升测试效率与准确率

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2026-03-30 21:00:47

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国家知识产权局信息显示，福建福顺半导体制造有限公司申请一项名为“一种基于JUNO系统的三合一MOS晶圆快速测试方法及装置”的专利，公开号CN121741437A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本发明公开一种基于JUNO系统的三合一MOS晶圆快速测试方法，属于半导体测试领域。针对传统JUNO系统测试三合一MOS晶圆需多次操作、效率低的问题，通过三步实现优化：改造JUNO测试盒，断开预设区域线路并引出资源信号；设计含继电器的转接板电路，分时切换资源至启动、功率、镜像三类待测MOS器件；修改JUNO测试程序，新增时序控制适配切换动作。还可增设测试前校准步骤保障精度，能单次操作完成隔离电压、导通电阻等参数测试。本发明提升测试效率与准确率，降低设备成本，适用于三合一MOS晶圆量产测试。

天眼查资料显示，福建福顺半导体制造有限公司，成立于2005年，位于福州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本6020万美元。通过天眼查大数据分析，福建福顺半导体制造有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目18次，财产线索方面有商标信息2条，专利信息121条，此外企业还拥有行政许可27个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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