恒玄科技申请数字芯片漏电优化方法专利，可解决芯片设计中漏电优化评判基准的问题_资讯

恒玄科技申请数字芯片漏电优化方法专利，可解决芯片设计中漏电优化评判基准的问题

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2026-03-28 16:41:37

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国家知识产权局信息显示，恒玄科技（上海）股份有限公司申请一项名为“一种数字芯片的漏电优化方法及电子设备”的专利，公开号CN121745020A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明公开了一种数字芯片的漏电优化方法及电子设备，属于集成电路的设计和制造技术领域，所述数字芯片的漏电优化方法包括：获取数字电路中所有可优化标准单元的初始阈值电压类型及其可优化阈值电压类型列表，并获取数字电路的初始约束违例报告；将每个可优化标准单元的阈值电压类型优化为其可优化阈值电压列表中的最高阈值电压类型；以及依据优化后数字电路的约束违例报告，以可优化标准单元的初始阈值电压类型为约束，将与违例相关的可优化标准单元进行阈值电压类型的依次回退，直至数字电路的约束违例报告与初始约束违例报告相比无新增违例。通过本发明公开的数字芯片的漏电优化方法，可解决芯片设计中漏电优化评判基准的问题。

天眼查资料显示，恒玄科技（上海）股份有限公司，成立于2015年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本16836.6223万人民币。通过天眼查大数据分析，恒玄科技（上海）股份有限公司共对外投资了9家企业，参与招投标项目4次，财产线索方面有商标信息18条，专利信息505条，此外企业还拥有行政许可7个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业评判设计投资约束芯片标准单元数字恒玄专利阈值恒玄科技电压违例

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