芯合电子申请非易失性存储器数据读操作测试系统专利，可高效计算出存储器访问时间_资讯

芯合电子申请非易失性存储器数据读操作测试系统专利，可高效计算出存储器访问时间

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2026-03-25 23:45:15

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国家知识产权局信息显示，芯合电子（上海）有限公司申请一项名为“一种非易失性存储器数据读操作测试系统”的专利，公开号CN121725864A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请实施例提供了一种非易失性存储器数据读操作测试系统，通过将测试数据烧录至存储器后，系统能够自动执行测试数据的读取与比较操作，基于比较结果以便确定期望值，系统可自适应地调节初步稳定读出数据的时钟周期范围，以精确地捕捉到数据读取成功的临界时钟周期，由此，可高效计算出存储器访问时间。该方法显著提升了测试覆盖度，并具备高度的实现灵活性，能够便捷地应用于多种测试平台或载体，实现对目标存储器读取速度的精准测量。

天眼查资料显示，芯合电子（上海）有限公司，成立于2018年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本1610.5263万人民币。通过天眼查大数据分析，芯合电子（上海）有限公司共对外投资了10家企业，财产线索方面有商标信息1条，专利信息52条，此外企业还拥有行政许可2个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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