恩智浦申请电平移位器测试电路专利,测试第一电平移位器的操作
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2026-03-14 23:27:18
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国家知识产权局信息显示,恩智浦有限公司申请一项名为“电平移位器电路”的专利,公开号CN121664173A,申请日期为2025年9月。

专利摘要显示,提供了一种电平移位器测试电路、测试电平移位器测试电路的方法以及半导体芯片。所述电路包括用于将信号从第一域转换到第二域的第一电平移位器。所述第一电平移位器被配置成从所述第一域接收所述信号作为输入,以及输出已通过所述第一电平移位器针对所述第二域转换的转换信号,其中所述转换信号分成第一输出信号和第一电平移位器反馈信号。所述电路另外包括测试逻辑,所述测试逻辑被配置成接收所述第一电平移位器反馈信号并测试所述第一电平移位器的操作。

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