伟测半导体申请基于PCB的电流多模式测量方法专利，消除接触电阻影响_资讯

伟测半导体申请基于PCB的电流多模式测量方法专利，消除接触电阻影响

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2026-03-07 18:28:39

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国家知识产权局信息显示，天津伟测半导体科技有限公司和深圳伟测半导体科技有限公司申请一项名为“一种基于PCB的电流多模式测量方法”的专利，公开号CN121613171A，申请日期为2026年2月。

专利摘要显示，本发明公开了一种基于PCB的电流多模式测量方法，本发明涉及电子测量技术领域，将传感夹具夹持于待测PCB走线上，传感夹具包括电流接触端和电压感测端，执行在线电阻测量模式，通过电流接触端注入测试电流，通过电压感测端测量第一电压，计算走线电阻，执行在线电流测量模式，保持夹具位置不变，测量工作电流产生的第二电压，根据第二电压和走线电阻计算工作电流，本发明采用四端点开尔文连接原理，通过实时在线电阻标定，消除接触电阻影响，实现在空间受限的PCB环境下的非破坏性高精度电流测量。

天眼查资料显示，天津伟测半导体科技有限公司，成立于2024年，位于天津市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，天津伟测半导体科技有限公司参与招投标项目4次，专利信息6条。

深圳伟测半导体科技有限公司，成立于2023年，位于深圳市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本10000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳伟测半导体科技有限公司参与招投标项目4次，专利信息7条，此外企业还拥有行政许可14个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

科技电流模式影响电阻测量导体查大专利深圳走线电阻夹具电压感

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