晶丰芯驰申请SiC基GaN外延结构及其制备方法专利,具备较高的击穿电压
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2026-03-05 09:44:49
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国家知识产权局信息显示,嘉兴晶丰芯驰半导体材料有限公司申请一项名为“一种SiC基GaN外延结构及其制备方法、器件”的专利,公开号CN121604732A,申请日期为2025年11月。

专利摘要显示,本发明涉及一种SiC基GaN外延结构及其制备方法、器件,具体涉及半导体领域,所述SiC基GaN外延结构包括:依次设置于衬底上的GaN沟道层、AlN插入层和AlGaN势垒层;所述衬底包括:掺Fe‑SiC半绝缘衬底。本发明提供的SiC基GaN外延结构,通过在衬底内掺入Fe使得衬底为半绝缘衬底,即可不设置高阻层实现SiC基GaN外延结构的优化,使得所得外延结构能够避免漏电即在高电压击穿,具备较高的击穿电压,同时具备良好的散热效果。

天眼查资料显示,嘉兴晶丰芯驰半导体材料有限公司,成立于2024年,位于嘉兴市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析,嘉兴晶丰芯驰半导体材料有限公司专利信息19条。

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来源:市场资讯

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