上海集成电路研发中心取得黑体响应率测试装置及方法专利
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2026-03-03 11:13:45
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国家知识产权局信息显示，上海集成电路研发中心有限公司取得一项名为“一种黑体响应率测试装置及方法”的专利，授权公告号CN115790864B，申请日期为2022年12月。
天眼查资料显示，上海集成电路研发中心有限公司，成立于2002年，位于上海市，是一家以从事其他制造业为主的企业。企业注册资本30060万人民币。通过天眼查大数据分析，上海集成电路研发中心有限公司共对外投资了7家企业，参与招投标项目296次，财产线索方面有商标信息103条，专利信息2165条，此外企业还拥有行政许可88个。
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来源：市场资讯
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