伟测半导体申请测试方法及其测试装置专利，解决适配性、精度和效率问题_资讯

伟测半导体申请测试方法及其测试装置专利，解决适配性、精度和效率问题

创始人

2026-02-09 17:48:16

0次

国家知识产权局信息显示，上海伟测半导体科技股份有限公司申请一项名为“测试方法及其测试装置”的专利，公开号CN121476905A，申请日期为2026年1月。

专利摘要显示，本公开涉及集成电路测试领域，提供一种测试方法及其测试装置，应用于测试工具，方法包括以下步骤：确定待测芯片在测试工具的待检测区域内的初始位置；根据初始位置确定待测芯片与待检测区域的测试位置之间的位置偏移；基于位置偏移，控制构成待检测区域对应的至少一个可移动边界产生位移，推动待测芯片至测试位置。能够适配多种封装型号的待测芯片的功能，实现待测芯片的自动对准与夹持，以及测试接口的自动配置，从而解决适配性、精度和效率问题。

天眼查资料显示，上海伟测半导体科技股份有限公司，成立于2016年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本14894.3529万人民币。通过天眼查大数据分析，上海伟测半导体科技股份有限公司共对外投资了9家企业，参与招投标项目6次，财产线索方面有商标信息4条，专利信息70条，此外企业还拥有行政许可19个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业投资效率上海测试精度芯片装置导体专利天眼位置

上一篇：午评：创业板指大涨超3%，半导体等板块拉升，AI应用概念等活跃

下一篇：COOH-PEG-HMME结合HMME的光敏特性，可以进行光动力学成像

伟测半导体申请测试方法及其测试装置专利，解决适配性、精度和效率问题

相关内容

热门资讯