华兴源创申请芯片测试系统及测试方法专利，提高芯片测试系统的拓展性_资讯

华兴源创申请芯片测试系统及测试方法专利，提高芯片测试系统的拓展性

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2026-02-07 15:13:54

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国家知识产权局信息显示，苏州华兴源创科技股份有限公司申请一项名为“芯片测试系统及测试方法”的专利，公开号CN121476894A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本申请揭示了一种芯片测试系统及测试方法，该芯片测试系统包括：控制器；测试组件，包括测试基座和测试载板，所述测试基座可拆卸安装在所述测试载板上，所述测试基座用于安装待测试芯片，所述测试载板上设有时钟模块和供电模块，所述时钟模块和所述供电模块均与所述控制器电连接，所述时钟模块和所述供电模块均可调节；显示组件，包括多组显示灯；电源组件。该芯片测试系统，控制器可以通过接口与其他电子设备进行连接，从而方便根据待测试芯片的规格不同，从而调试成不同程序；时钟模块和供电模块均预存了一些参数，供不同的待测试芯片使用；设置多组显示灯，从而提高该芯片测试系统的拓展性，每次可以调用其中的一组或多组显示灯进行工作。

天眼查资料显示，苏州华兴源创科技股份有限公司，成立于2005年，位于苏州市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本44448.9843万人民币。通过天眼查大数据分析，苏州华兴源创科技股份有限公司共对外投资了17家企业，参与招投标项目228次，财产线索方面有商标信息181条，专利信息1488条，此外企业还拥有行政许可28个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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