英特瑞申请基于芯片指令解耦的芯片温循测试方法专利，实现温循测试的高度通用性与扩展性_资讯

英特瑞申请基于芯片指令解耦的芯片温循测试方法专利，实现温循测试的高度通用性与扩展性

创始人

2026-01-29 15:13:23

0次

国家知识产权局信息显示，深圳市英特瑞半导体科技有限公司申请一项名为“一种基于芯片指令解耦的芯片温循测试方法、设备及介质”的专利，公开号CN121410495A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本发明公开了一种基于芯片指令解耦的芯片温循测试方法、设备及介质。方法包括以下步骤：接收芯片测试指令帧；对芯片测试指令帧进行解析，得到芯片测试参数；基于芯片测试参数为芯片配置测试环境，对芯片进行温循测试；将芯片的测试结果聚合并发送。本发明通过“指令‑芯片双字段解耦”的架构设计，实现了温循测试的高度通用性与扩展性。作为下位机的测试设备预埋各种芯片的驱动函数后，仅需接收上位机发送的标准化指令帧即可触发测试流程。标准化指令帧中的动态字段设计能自适应不同测试场景的需求，结合帧内的长度标识符，下位机能自动拆分数据并驱动多型号芯片并发执行测试，实现了从单一指令到批量控制的灵活扩展。

天眼查资料显示，深圳市英特瑞半导体科技有限公司，成立于2016年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市英特瑞半导体科技有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目1次，专利信息39条，此外企业还拥有行政许可9个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业指令通用性投资测试芯片温循高度专利英特瑞下位机深圳市

上一篇：阿里平头哥上线自研AI芯片“真武”

下一篇：阿里平头哥官网上线AI芯片「真武810E」

英特瑞申请基于芯片指令解耦的芯片温循测试方法专利，实现温循测试的高度通用性与扩展性

相关内容

热门资讯