博为精密申请基于PCB生产线的AOI检测设备及其工艺专利，降低立体盲区漏检率、特殊材质误检率_资讯

博为精密申请基于PCB生产线的AOI检测设备及其工艺专利，降低立体盲区漏检率、特殊材质误检率

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2026-01-29 00:39:38

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国家知识产权局信息显示，深圳市博为精密电子科技有限公司申请一项名为“一种基于PCB生产线的AOI检测设备及其工艺”的专利，公开号CN121409866A，申请日期为2025年11月。

专利摘要显示，本发明公开了一种基于PCB生产线的AOI检测设备及其工艺，涉及AOI检测设备技术领域，包括检测机以及PCB板，所述检测机内固定安装有执行机构支架与操作台；还包括以下步骤：S1：上下料输送机构将PCB板输送至检测机内，放置架承接PCB板，此时速度传感器启动并开始采集传送带的初始速度信号。优点在于：本设备采用三组差异化光源适配平面缺陷、立体结构及特殊材质区域，搭配同步滤光与遮光设计，降低立体盲区漏检率、特殊材质误检率，还能通过定位补偿提高精度；在速度上，传感器实时调节光源、滤光片切换频率，智能分配照射时长，保障单位长度检测覆盖率恒定，为AOI设备在复杂生产线环境下的稳定运行提供了核心保障。

天眼查资料显示，深圳市博为精密电子科技有限公司，成立于2024年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市博为精密电子科技有限公司专利信息1条，此外企业还拥有行政许可3个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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