北京兆芯申请信号生成装置及方法专利，能在待测电路内部自动生成测试功能信号_资讯

北京兆芯申请信号生成装置及方法专利，能在待测电路内部自动生成测试功能信号

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2026-01-26 08:39:16

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国家知识产权局信息显示，北京兆芯电子科技有限公司申请一项名为“信号生成装置、待测电路及信号生成方法”的专利，公开号CN121385589A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本公开涉及一种信号生成装置、待测电路及信号生成方法，该装置包括：配置模块；计数器，其初始数值由所述配置模块配置；以及有限状态机，当所述有限状态机处于测试状态时，所述有限状态机向所述计数器发送计数器使能信号，其中，所述计数器响应于所述计数器使能信号而被使能，并在所述计数器的计数值达到所述初始数值时生成用于使所述有限状态机的测试状态发生跳转的状态跳转信号，所述有限状态机根据所述状态跳转信号进行测试状态的跳转，并生成与跳转至的测试状态相对应的测试功能信号。由此，能够在待测电路内部自动生成测试功能信号，而无需经由ATE来提供测试功能信号。

天眼查资料显示，北京兆芯电子科技有限公司，成立于2013年，位于北京市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本175000万人民币。通过天眼查大数据分析，北京兆芯电子科技有限公司参与招投标项目106次，专利信息29条，此外企业还拥有行政许可7个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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