复旦微电子申请集成电路老化测试夹具专利，降低集成电路老化测试的复杂度及对高端老化测试设备的依赖_资讯

复旦微电子申请集成电路老化测试夹具专利，降低集成电路老化测试的复杂度及对高端老化测试设备的依赖

创始人

2026-01-21 09:39:55

0次

国家知识产权局信息显示，上海复旦微电子集团股份有限公司申请一项名为“集成电路老化测试夹具”的专利，公开号CN121348031A，申请日期为2024年7月。

专利摘要显示，本发明公开一种集成电路老化测试夹具，包括：夹具底座、与夹具底座连接的夹具上盖、以及具有独立温控系统的温控模块；温控模块包括结构本体、以及设置在结构本体上的控制模块、温度传感器、加热驱动模块、以及加热棒；控制模块安装在结构本体的一侧，加热驱动模块安装在结构本体的另一侧；温度传感器，用于采集待测器件的温度数据；控制模块，用于获取温度传感器采集的温度数据，根据温度数据控制加热驱动模块的工作状态；加热驱动模块，用于控制加热棒的加热功率。本发明老化测试夹具不依赖外部设备可独立完成老化温度的控制，可以降低集成电路老化测试的复杂度及对高端老化测试设备的依赖。

天眼查资料显示，上海复旦微电子集团股份有限公司，成立于1998年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本8214.273万人民币。通过天眼查大数据分析，上海复旦微电子集团股份有限公司共对外投资了12家企业，参与招投标项目345次，财产线索方面有商标信息84条，专利信息414条，此外企业还拥有行政许可26个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业投资控制夹具测试上海复旦模块微电子集成电路专利温度传感器本体

上一篇：南大光电（300346）1月20日主力资金净买入4266.96万元

下一篇：中富电路：截至2026年1月9日，股东总户数为28,813户

复旦微电子申请集成电路老化测试夹具专利，降低集成电路老化测试的复杂度及对高端老化测试设备的依赖

相关内容

热门资讯