稳先微电子取得智能电子开关老化测试装置专利，节省电力消耗_资讯

稳先微电子取得智能电子开关老化测试装置专利，节省电力消耗

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2026-01-20 11:38:45

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国家知识产权局信息显示，深圳市稳先微电子有限公司取得一项名为“一种用于智能电子开关的老化测试装置”的专利，授权公告号CN223815418U，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，本申请提供一种用于智能电子开关的老化测试装置，其中，N个智能电子开关中的至少两个串联后再与负载连接形成至少一个负载通路，且至少一个负载通路均连接在供电电源的正端与负端之间，N个智能电子开关的输入端均与信号源连接，该信号源用于控制N个智能电子开关的开关状态；信号采集电路与至少一个负载通路连接，用于采集至少一个负载通路上的连通信号，根据该连通信号确定待测智能电子开关集合的老化测试结果。即，该测试方案将待测智能电子开关串联连接到负载通路中，不仅节省了负载，而且能够极大的降低了老化测试过程中的功耗，节省了电力消耗。

天眼查资料显示，深圳市稳先微电子有限公司，成立于2000年，位于深圳市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本2848.2982万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市稳先微电子有限公司共对外投资了5家企业，参与招投标项目4次，财产线索方面有商标信息21条，专利信息111条，此外企业还拥有行政许可18个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

企业投资测试开关电力装置微电子专利智能负载电子深圳市通路

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