芯火微测申请芯片检测扫描电镜专利，使得芯片检测使用场景得到拓展_资讯

芯火微测申请芯片检测扫描电镜专利，使得芯片检测使用场景得到拓展

创始人

2026-01-17 17:39:19

0次

国家知识产权局信息显示，芯火微测（成都）科技有限公司申请一项名为“一种芯片检测扫描电镜”的专利，公开号CN121331725A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明公开了一种芯片检测扫描电镜，包括壳体，壳体内沿竖向设置有扫描电子显微镜装置、样品台，壳体内还倾斜设置有聚焦离子束装置，样品台包括底座以及可摆动地设置在底座上的第一平台，底座上设置有用于驱动第一平台发生偏转的偏转装置，底座上设置有连接座，连接座上可摆动地设置有第二平台，第二平台位于第一平台的上方；连接座上还设置有驱动机构。与现有技术相比，本发明的芯片检测扫描电镜利用了设备原有样品台（即第一平台）的偏转实现对第二平台的偏转驱动，通过第一平台的多次偏转可实现第二平台更大幅度的偏转，使得芯片检测使用场景得到拓展，例如可实现对芯片更大角度的检测观察。

天眼查资料显示，芯火微测（成都）科技有限公司，成立于2022年，位于成都市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本7000万人民币。通过天眼查大数据分析，芯火微测（成都）科技有限公司参与招投标项目28次，财产线索方面有商标信息3条，专利信息23条，此外企业还拥有行政许可3个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

科技成都投资驱动平台检测偏转芯片底座专利样品台壳体芯火

上一篇：阴极保护检测电位需要用到参比电极吗？

下一篇：三钧线缆取得双层复合冲压端子专利，相同的接触材料降低了接触电阻

芯火微测申请芯片检测扫描电镜专利，使得芯片检测使用场景得到拓展

相关内容

热门资讯