长川科技申请测试数据处理方法专利，使用户可以在芯片测试过程中实时监控测试流程_资讯

长川科技申请测试数据处理方法专利，使用户可以在芯片测试过程中实时监控测试流程

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2026-01-17 16:12:06

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国家知识产权局信息显示，杭州长川科技股份有限公司申请一项名为“测试数据的处理方法、装置、设备和存储介质”的专利，公开号CN121324888A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本公开提供了一种测试数据的处理方法、装置、设备和存储介质，通过按照预设频率读取测试文件中的芯片测试数据并在数据展示界面刷新显示最新读取的部分芯片测试数据，使用户可以在芯片测试过程中实时监控测试流程，并且，提供了虚拟结批功能，在芯片测试过程中随时可以按照预设统计维度对已获取到的芯片测试数据进行统计分析并展示统计分析数据，以及基于统计分析数据生成可被测试分析工具解析的子测试文件，利用测试分析工具生成分析报告，用户无需等待芯片测试工程结束才能确定芯片测试过程中各测试项或各待测芯片的测试情况，可以及时发现异常。

天眼查资料显示，杭州长川科技股份有限公司，成立于2008年，位于杭州市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本60432.8728万人民币。通过天眼查大数据分析，杭州长川科技股份有限公司共对外投资了16家企业，参与招投标项目117次，财产线索方面有商标信息15条，专利信息1216条，此外企业还拥有行政许可79个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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