上海启泰沣华申请芯片老化测试机主动式温度控制方法及系统专利，实现对芯片结温的更高精度和更快响应的控制_资讯

上海启泰沣华申请芯片老化测试机主动式温度控制方法及系统专利，实现对芯片结温的更高精度和更快响应的控制

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2026-01-05 18:09:03

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国家知识产权局信息显示，上海启泰沣华半导体科技有限公司申请一项名为“一种芯片老化测试机主动式温度控制方法及系统”的专利，公开号CN121254944A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明涉及芯片测试工程控制技术领域，特别涉及一种芯片老化测试机主动式温度控制方法及系统，包括：根据测试任务参数解析测试流程，并评估测试芯片的预期热负载变化率，以动态生成芯片目标结温控制曲线；基于芯片目标结温控制曲线、实际芯片结温和当前实际炉温，通过结温闭环控制算法获取理论炉温，并结合测试状态参数通过前馈补偿算法计算炉温补偿量，根据理论炉温与炉温补偿量获取理想炉温；根据基础温度调节量与温度控制补偿量获取实际温度控制量，本发明能够更加精准跟踪预设的芯片目标结温控制曲线，更能有效抑制由测试程序切换和环境波动引起的瞬态和稳态误差，实现对芯片结温的更高精度和更快响应的控制。

天眼查资料显示，上海启泰沣华半导体科技有限公司，成立于2022年，位于上海市，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业。企业注册资本2000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海启泰沣华半导体科技有限公司共对外投资了1家企业，财产线索方面有商标信息3条，专利信息10条，此外企业还拥有行政许可1个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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