普赛微科技申请基于大模型的芯片测试检索方法专利，显著提升芯片测试效率与质量_资讯

普赛微科技申请基于大模型的芯片测试检索方法专利，显著提升芯片测试效率与质量

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2026-01-03 16:10:33

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国家知识产权局信息显示，普赛微科技（杭州）有限公司申请一项名为“一种基于大模型的芯片测试检索方法及系统”的专利，公开号CN121255825A，申请日期为2025年9月。

专利摘要显示，本发明公开了一种基于大模型的芯片测试检索方法及系统，包括以下步骤：收集芯片测试文档，构建芯片测试向量知识库；接收用户查询，利用词向量模型结构在知识库中执行搜索；基于检索结果与用户查询生成更为丰富的上下文信息，经微调的大模型生成测试用例或测试分析报告。本发明中，通过上述方法有效整合检索和生成的能力，实现测试指令与知识的高效检索和测试用例/报告的自动生成，显著提升芯片测试效率与质量。同时，检索生成系统采用Django框架开发平台，借助MyWebsocket技术实时流式输出，实时反馈检索结果，并把问答数据写入MySQL。系统包括知识库构建模块、检索模块、生成模块、流式交互模块和数据存储模块。与现有技术相比，本发明提高了测试指令检索准确率18%以上，测试用例生成时间缩短60%，并实现了测试知识的共享与复用。

天眼查资料显示，普赛微科技（杭州）有限公司，成立于2020年，位于杭州市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本281.25万人民币。通过天眼查大数据分析，普赛微科技（杭州）有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目1次，专利信息27条。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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