苏州元脑智能申请芯片故障测试方法专利，解决了相关技术中芯片的故障测试效率低的问题_资讯

苏州元脑智能申请芯片故障测试方法专利，解决了相关技术中芯片的故障测试效率低的问题

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2026-01-02 19:09:45

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国家知识产权局信息显示，苏州元脑智能科技有限公司申请一项名为“一种芯片故障的测试方法和电子设备”的专利，公开号CN121255557A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本申请公开了一种芯片故障的测试方法和电子设备，涉及故障测试技术领域，应用于芯片故障的测试系统，方法包括：基板信号控制模块生成与待测试芯片的至少一个待测试功能对应的故障指令；故障信号解析模块对生成的故障指令进行解析，得到故障类型，并基于故障指令触发待测试芯片进入故障状态；响应于待测试芯片进入故障状态，获取寄存器数据和黑盒数据；基于寄存器数据、黑盒数据以及故障类型，获取测试结果；当测试结果指示待测试功能正常，故障恢复模块解除故障状态，并循环执行下一待测试功能的测试；当测试结果指示待测试功能异常，故障恢复模块保持待测试芯片处于故障状态；本申请解决了相关技术中芯片的故障测试效率低的问题。

天眼查资料显示，苏州元脑智能科技有限公司，成立于2018年，位于苏州市，是一家以从事专用设备制造业为主的企业。企业注册资本38500万人民币。通过天眼查大数据分析，苏州元脑智能科技有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目75次，专利信息5000条，此外企业还拥有行政许可15个。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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